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產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2024-11-26簡(jiǎn)要描述：MICROTEST/益和匝間短路測(cè)試儀 7750系列檢測(cè)技術(shù)采用方式為『非破壞性、高速脈沖電壓與阻尼振蕩波形比對(duì)』施加脈沖電壓于繞組線(xiàn)圈的兩端，在不破壞被測(cè)物的條件下，透過(guò)L/C諧振產(chǎn)生阻尼衰減振蕩波形，進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)品與被測(cè)物比對(duì)兩者間的瞬間波形，在產(chǎn)品壽命性質(zhì)量下提前檢出層間短路、內(nèi)部線(xiàn)圈或磁芯絕緣瑕疵的不良品。
MICROTEST/益和匝間短路測(cè)試儀 7750系列產(chǎn)品簡(jiǎn)介
同系列型號(hào)：7750-1 7750-5 7750-10
?最小電感值≥0.2μH
?電壓補(bǔ)償功能
?崩潰電壓測(cè)試
?穩(wěn)定極速測(cè)試：7次/秒
?儀器內(nèi)建可儲(chǔ)存128組測(cè)試波形
?USB Host快速存取測(cè)試畫(huà)面
?五種波形比對(duì)，檢測(cè)繞線(xiàn)組件層間短路不良
7750層間短路測(cè)試儀檢測(cè)技術(shù)采用方式為『非破壞性、高速脈沖電壓與阻尼振蕩波形比對(duì)』施加脈沖電壓于繞組線(xiàn)圈的兩端，在不破壞被測(cè)物的條件下，透過(guò)L/C諧振產(chǎn)生阻尼衰減振蕩波形，進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)品與被測(cè)物比對(duì)兩者間的瞬間波形，在產(chǎn)品壽命性質(zhì)量下提前檢出層間短路、內(nèi)部線(xiàn)圈或磁芯絕緣瑕疵的不良品。
MICROTEST/益和匝間短路測(cè)試儀 7750系列參數(shù)
型號(hào) | 脈沖電壓 | 最小電感量 |
可程式化 | ||
7750-1 | 10V-1200V | ≥0.1μH |
電壓解析度 0.1V | ||
******0.028焦耳 | ||
7750-5 | 100V-5200V | ≥10μH |
電壓解析度 1V | ||
******0.5焦耳 | ||
7750-10 | 200V-10000V | ≥20μH |
電壓解析度 5V | ||
******2焦耳 | ||
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|
脈沖電壓精準(zhǔn)度 | ±（1% of setting＋5V） | |
7750-1 | ||
±（1% of setting＋10V） | ||
7750-5 | ||
±（1% of setting＋20V） | ||
7750-10 | ||
基本量測(cè)時(shí) | 7次/秒 | |
脈沖施加數(shù) | ******32 | |
波形采樣率 | 200MHz/9 bit | |
輸入阻抗 | 20MΩ | |
測(cè)試項(xiàng)目 | 總面積比對(duì) | |
面積差比對(duì) | ||
二階微分比對(duì) | ||
電暈數(shù)比對(duì) | ||
支援崩潰電壓測(cè)試 | 支援此功能 | |
Remote 信號(hào) | Remote輸出信號(hào) | |
PASS/FAIL/TEST/READ/HV ON | ||
| ||
Remote輸入信號(hào) | ||
START/STOP | ||
內(nèi)建儲(chǔ)存 | 128組 | |
界面 | USB Host/Device、RS-232、Remote | |
GPIB、LAN選配 | ||
電源需求 | 電壓98Vac-132Vac或192Vac-264Vac | |
頻率50/60Hz±5% | ||
液晶屏幕 | 7吋TFT,彩色顯示(800*480) | |
操作環(huán)境 | 溫度：0℃-40℃、濕度：20-80%RH | |
外觀(guān)尺寸(W*H*D) | 430x132x370 mm | |
重量 | 7Kg | |
15220080939
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