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直流微電阻計(jì)與交流微電阻計(jì)測量和使用的區(qū)別

更新時(shí)間：2014-02-18 點(diǎn)擊次數(shù)：3726次

直流微電阻計(jì)與交流微電阻計(jì)測量和使用的區(qū)別，日本日置的交流微電阻計(jì)以HIOKI 3560和HIOKI3561為例，日本日置直流微電阻計(jì)以HIOKI 3540和HIOKI 3541為例。這樣交流微電阻計(jì)與直流微電阻計(jì)區(qū)別在下面表里反應(yīng)出來

測量原理	直流微電阻計(jì)（3540、3541）	交流微電阻計(jì)3560、3561
測量原理	從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）による電壓下降	從主機(jī)輸出AC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）引起的電壓下降
測量原理	從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）による電壓下降	DC電流回路（蓄電池等）上AC電流不會(huì)有影響
電阻測量精度	比較高（zui高0.007％）	若干低（zui高0.5％）
熱起電力影響	有影響（3541能去掉）熱起電力發(fā)生多余電壓引起電阻計(jì)的精度低下	沒有
微電阻量程測量電流	比較大（3540是100mA、3541是1A）嫌惡大電流的元件（開關(guān)的氧化膜等）被破壞	小（3560是7.4mA、3561是10mA）

測量原理	直流微電阻計(jì)（3540、3541）	交流微電阻計(jì)3560、3561
測量原理	從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）による電壓下降	從主機(jī)輸出AC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）引起的電壓下降
測量原理	從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）による電壓下降	DC電流回路（蓄電池等）上AC電流不會(huì)有影響
電阻測量精度	比較高（zui高0.007％）	若干低（zui高0.5％）
熱起電力影響	有影響（3541能去掉）熱起電力發(fā)生多余電壓引起電阻計(jì)的精度低下	沒有
微電阻量程測量電流	比較大（3540是100mA、3541是1A）嫌惡大電流的元件（開關(guān)的氧化膜等）被破壞	小（3560是7.4mA、3561是10mA）

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